NI, 반도체테스팅시스템(STS) 소프트웨어 버전 업데이트

김진수 기자 / 기사승인 : 2019-10-01 15:20:39
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▲ NI STS(Semiconductor Test System) [사진=NI]

[IT비즈뉴스 김진수 기자] 내쇼날인스트루먼트(NI)가 자사 반도체테스팅시스템(Semiconductor Test System, STS)의 프로그래밍·디버깅 환경과 테스트 실행 속도, 병렬 테스트 효율성 개선을 포함하는 포괄적인 STS 소프트웨어(SW) 개선 사항을 1일 발표했다.


중복 인스트루먼트 프로그래밍을 위해 간소화된 드라이버 환경과 사용 편의성이 뛰어난 디지털 스캔 지원이 포함됐으며 관련 DUT 사이트와 핀을 선택하면 멀티사이트 애플리케이션에서 대화식 측정이 가능하도록 디버깅 환경도 개선됐다.

이와 함께 테스트 실행 시간을 단축하는 최적화된 계측 드라이버와 병렬 테스트 효율성을 높이는 향상된 스레드 관리를 바탕으로 테스트 처리량을 높일 수 있도록 수정됐다. 

 

소프트웨어 전환 시간을 단축해 로트 간에 테스터 설정을 바꿔야하는 시나리오에서도 활용률이 높아지면서 전반적인 장비 효율성을 개선할 수 있다는 게 사측 설명이다.

리투 파브르 NI 반도체 사업부 총괄은 “이번 업데이트로 병렬 처리와 속도, 효율성을 향상하는 동시에 NI STS의 기능이 대폭 개선됐다. 새롭게 개선된 STS 소프트웨어 2019는 더 빠르고 저렴한 비용으로 시장에 제품을 출시할 수 있도록 지원할 것”이라고 말했다.

 

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